晶圓探測鎢針指的是專門用于集成電路晶圓測試用的探測針。晶圓測試是對芯片上的每個晶粒進(jìn)行針測，在檢測頭裝上以鎢材料制成的鎢探針，與晶粒上的接點接觸，測試其電氣特性，不合格的晶粒會被標(biāo)上記號，而后當(dāng)芯片依晶粒為單位切割成獨立的晶粒時，標(biāo)有記號的不合格晶粒會被淘汰，不再進(jìn)行下一個制程，以免徒增制造成本。
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這意味著晶圓探測鎢針的好壞將在很大程度上影響到產(chǎn)出的集成電路的優(yōu)良率和效率。
鎢針是錐形的，經(jīng)過多次測試后必然會磨損，達(dá)到一定的程度，針頭必然粗到影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，這時候就需要將鎢針替換掉，也就是說，鎢探針是晶圓測試過程中的耗材。
