晶圓探針用什么？晶圓探針用鎢針。鎢針可以用于集成電路晶圓測(cè)試的工具——探針卡的電路板上，又或者是探針臺(tái)上，主要是測(cè)試晶圓上每一個(gè)晶粒的電氣性能，看它們是否是依照設(shè)計(jì)規(guī)格制造出來(lái)的。
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晶圓測(cè)試是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。它是節(jié)約廢芯片封裝成本的一種方法，現(xiàn)如今已經(jīng)成為工藝控制、成品率管理、產(chǎn)品質(zhì)量以及降低總測(cè)試成本的一個(gè)關(guān)鍵因素。所以，晶圓探針的質(zhì)量的好壞將影響到測(cè)試成本、產(chǎn)品質(zhì)量等因素。因此，探針材質(zhì)的選擇非常重要。對(duì)此，業(yè)內(nèi)人士表示，鎢針作為探針已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于晶圓測(cè)試。
